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ZoomOptics可获得更准确的测量结果，无测量误差
ZoomOptics系统优化了探测器的视野，从而消除了孔径光阑造成的任何影响。结果是测量结果的精度显著提高。
超薄样品测量数据的超快记录（2MHz）
薄膜和高导电性材料需要非常高的数据采集速率，以准确记录样品上表面的快速温度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采样率，这是LFA系统的价值。
LFA 467 HyperFlash采用单一仪器设置，即无需更换探测器或熔炉，即可在-100°C至500°C之间进行测量。再加上市场上广泛的配件，该仪器为测定热物理性质开辟了全新的领域。
LFA 467 HyperFlash的一个独特优势是能够在整个温度范围内同时测量多达16个样本。这允许以更小的操作时间和工作量输入实现更大的样本吞吐量。
再填充系统可用于探测器和熔炉上杜瓦瓶的自动再填充，允许LFA系统24小时不间断运行。
温度范围：-100°C…500°C
可提供室温版本
加热速率（max）：50 K/min
炉膛冷却装置
外部冷却器（RT...500°C），可选：
热扩散率0.01 mm2/s…2000 mm2/s
准确度
热扩散率1：±3%
比热2：±5%
重复性
热扩散率1：±2%
比热容2：±3%
氙气闪光灯
脉冲能量：max.10焦耳/脉冲（可变），软件控制
脉冲宽度：10至1500μs
缩放光学系统：优化的视野（可选，不需要遮罩）
脉冲映射：用于有限脉冲校正和改进的cp测定
红外探测器
大气：惰性、氧化性、静态和动态
真空：<150毫巴
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