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Semicansoft薄膜测量系统MProbe 20.pdf下载
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MProbe 20是一种用于全球数千个应用的薄膜厚度测量台式系统。它只需单击鼠标即可测量薄膜厚度和折射率。可以快速可靠地测量1nm至1mm的厚度，包括多层膜堆叠。不同的MProbe 20模型主要通过光谱仪的波长范围和分辨率来区分，这反过来决定了可以测量的材料的厚度范围和类型。该测量技术基于光谱反射——快速、可靠且无损。
产地：美国
精度：＜0.01nm或0.01%（在200nm氧化物上进行100次测量的s.d.）
<1nm或0.2%（依赖于胶片堆栈）
稳定性：＜0.02nm或0.2%（20天，每天测量）
测量厚度：1nm至1mm
光斑尺寸：<1mm
样品尺寸：>=10mm
主机：包括光谱仪、光源、光控制器微处理器
样品台：SH200A
探头：光纤反射
测试样品：200nm氧化硅或PET薄膜
电缆：USB或LAN
电源适配器：24VDC
电压：110/220V
