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该NanoScan狭缝扫描式光束轮廓分析仪通过其硅探测器，准确捕获和分析190nm - 1100nm的波长。该分析仪包括适合于小光束的狭缝尺寸、近实时数据捕获率、可选的功率测量功能等特征，且可在连续或kHz脉冲模式下工作，非常适合于对UV、VIS和NIR激光进行分析。
产地：美国
传感器类型：Silicon
光谱范围：190-1100 nm
狭缝尺寸：1.8 µm
孔径尺寸：3.5 mm
光束尺寸：7 µm - 2.3 mm
扫描头尺寸：83 mm
功率范围：10 nW - 10 W
通信：USB 2.0
软件：NanoScan Standard
兼容的光源：CW, Pulsed >25 kHz
