FORMFACTOR工易谷自营店

自营

产品数量：15

FormFactor, Inc.成立于1993年，当时在纽约的一个小型实验室为半导体行业开发产品。很快，团队发现了引线键合的 MicroSpring——一种适用于三种半导体应用的基础技术：插座、封装和探针卡。如今，FormFactor是整个 IC 生命周期中基本测试和测量技术的供应商——从表征、建模、可靠性和设计调试，到鉴定和生产测试。

半导体公司依靠我们的产品和服务，通过优化设备性能和提高良率知识来加速盈利。通过教育、协作和创新，FormFactor 帮助客户驾驭对下一代应用程序至关重要的技术转型。数据中心、移动和汽车等市场正在快速增长，我们的专家正在帮助测试工程师将精度提高到批量。

通过在从设计到硅的连续体中扩展其广泛的测试知识，FormFactor 可以成为半导体行业生态系统中值得信赖的合作伙伴。合作范围从应用程序开发和预生产阶段延伸到设计和批量制造。

FORMFACTOR主要产品：

探针系统

探针系统、eVue显微镜、定位器、夹头、隔振台、晶圆/多芯片系统、低温恒温器、真空/压力系统

探头

射频多触点、WPH探针、直流电源、大电流探头、高压探头

探针卡

计量学

计量工具、传感器

主要型号：

IMS-K-mmW/THz、IMS-K-SiPh、IMS-K-Power、IMS-K-DC、IMS-K-LFN、CM300、PM300、Summit、BlueRay、PM8/EPS200、MPS150、Altius、Katana、QiLin、Cantilever、Apollo、TrueScale、Vx-MP、MicroProf AP、MicroProf DI、MicroProf FS、MicroProf FE、MicroProf MHU、MicroProf TL、MicroProf 300、MicroProf 200、MicroProf 100

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产品编码： P5261827596517113859

FORMFACTOR 集成测量系统 IMS-K-Power

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FORMFACTOR

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产品介绍

在晶圆上而非封装内测试 Si 和GaN/SiC 器件时，研发工程师和测试操作员面临着收集高精度数据的一些挑战。其中包括需要在高电压下抗电弧的探针和系统、用于高电流的低电阻探针和晶圆接触，以及对薄晶圆的特殊处理。同时，对“快速获取准确数据”的需求需要快速轻松地设置复杂的高功率测试配置，同时考虑到操作员和设备。Keysight的紧密集成仪器完善了系统，以提供测量精度和可重复性。

来自 FormFactor 的预先验证、交钥匙、综合、集成的测量系统为重要的测试应用提供安心和即时、开箱即用的生产力。

这些是免费提供的。FormFactor 的 IMS 解决方案不包括Keysight定价或集成费用的加价。

这个功率半导体器件表征系统建立在研发仪器领域和分析探针系统领域——FormFactor IMS-K-Power 的基础之上。