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在晶圆上而非封装内测试 Si 和GaN/SiC 器件时，研发工程师和测试操作员面临着收集高精度数据的一些挑战。其中包括需要在高电压下抗电弧的探针和系统、用于高电流的低电阻探针和晶圆接触，以及对薄晶圆的特殊处理。同时，对“快速获取准确数据”的需求需要快速轻松地设置复杂的高功率测试配置，同时考虑到操作员和设备。Keysight的紧密集成仪器完善了系统，以提供测量精度和可重复性。
来自 FormFactor 的预先验证、交钥匙、综合、集成的测量系统为重要的测试应用提供安心和即时、开箱即用的生产力。
这些是免费提供的。FormFactor 的 IMS 解决方案不包括Keysight定价或集成费用的加价。
这个功率半导体器件表征系统建立在研发仪器领域和分析探针系统领域——FormFactor IMS-K-Power 的基础之上。
配备 Keysight PDA 的全面、交钥匙集成测量系统 (IMS) 用于晶圆上研发功率半导体器件特性测量
业界有效率、准确的功率半导体器件表征系统
实现高质量测量的更快、更经济的途径
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