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MINI大功率测试系统HTOL-700-2700-1W.pdf下载
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HTOL（高温工作寿命）是一种测试方法，旨在在较长时间内对设备施加压力，从而可以计算设备的长期可靠性。该测试适用于广泛的元件制造应用，尤其是 IC 制造商，包括放大器、滤波器和收发器。该概念需要一个高功率信号源和一个射频分配器系统，以在大量 DUT（被测设备）通道上并行分配测试信号，从而可以对可靠性进行统计上的计算。
HTOL-700-2700-1W 是一款现成的集成测试系统，专为 HTOL/老化测试应用而设计。完整的设置在一个标准的 19 英寸机柜中提供，能够在 700-2700 MHz 频段以 1W 的功率驱动 80 个并行 DUT。信号源可通过 USB 或以太网控制（支持 HTTP 和 Telnet 网络协议）。提供完整的软件支持，包括我们用于 Windows 的用户友好的 GUI 应用程序和带有 Windows 和 Linux 环境编程说明的完整 API。
电源：交流电源输入（90-260 V，47-63 Hz）
工作温度：0 至 +50 ºC
射频连接器
控制板：前面板
连接器：SMA 母头
数量：80
功能：被测设备连接
尺寸：19” (W) x 37U (H) x 20” (D)
高温工作寿命 (HTOL)
大功率老化/射频压力测试
半导体/元件鉴定
大功率信号源和分配
EMC/EMI 测试
